【產品概述】

M-30MR金相顯微鏡能提供圖像質量和穩(wěn)固的機械結構；
操作簡便，附件齊全，應用于教學科研金相分析、半導體硅晶片檢測、地址礦物分析、精密工程測量等領域；
光學系統(tǒng)：色差校正光學系統(tǒng)（CSIS），像質更優(yōu)，分辨率更高，觀察更舒適；
目鏡及物鏡：高眼點、寬視野平場目鏡，PL10x/22mm，提供更加寬闊平坦的觀察空間并可加裝用于測量的測微尺，平場消色差長工作距金相物鏡，無蓋玻片設計；
觀察筒：鉸鏈式雙目/三目/數碼一體化觀察筒，視度可調節(jié)，30°傾斜，可進行攝影攝像，對觀察圖像進行采集和保存，配置電腦和軟件實現(xiàn)圖像分析；
調焦機構：低手位粗微調同軸調焦機構，粗調行程28mm，微調精度0.002mm，帶有平臺位置上下調節(jié)機構，樣品高度可達50mm（反射），帶有粗調松緊調節(jié)裝置和隨機限位裝置；
照明系統(tǒng)：反射照明器帶斜照明裝置，可以再觀察細微組織結構時產生浮雕立體的觀察效果，自適應90V-240V寬電壓，單顆3WLED高亮度冷光源。

【技術參數】

PL10X22 高眼點大視野平場目鏡 1對
XYMTH30R 鉸鏈三通觀察筒，30°傾斜，瞳距調節(jié)范圍：54mm～75mm 1套
OLIP5NC 長工作距平場消色差金相物鏡5XLMPL5X/0.15 WD10.8mm 1只
OLIP10NC 長工作距平場消色差金相物鏡10XLMPL10X/0.3  WD10mm 1只
OLIP20NC 長工作距平場消色差金相物鏡20XLMPL20X/0.45  WD4mm 1只
OLIP50NC 長工作距平場半復消金相物鏡50XLMPLFL50X/0.55  WD7.8mm 1只
OLIP100NC 長工作距平場半復消金相物鏡100XLMPLFL100X/0.80 WD2.1mm(可另配) 不帶
XY-NPI5 內定位5孔轉換器 1只
XYMF 反射式機架，低手位粗微同軸調焦機構。粗調行程28mm，帶平臺位置上下調節(jié)機構。樣品高度50mm，微調精度0.002mm。帶有防止下滑的調節(jié)松緊裝置和隨機上限位裝置。 1套
XYMRL 反（落）射照明器，柯拉照明系統(tǒng)，帶視場光闌與孔徑光闌，中心可調。帶斜照明裝置。 1套
XYMLED 100-240V寬電壓,單顆大功率5W LED,暖色 1只
XYMSGM 雙層機械移動平臺，低手位X、Y方向同軸調節(jié)；
平臺面積175mm×145mm，移動范圍：76mm×42mm。 1套
XYM-MSP 反射用金屬載物臺板 1塊
MXPS φ30起偏鏡插板（反射用） 1只
MXPWSR 360度旋轉式檢偏鏡插板 1只
XYCTV0.5 1/2CTV(0.5X),C接口,可調焦 1只
倍率 50X、100X、200X、500X、可調（標準配置10X目鏡）
光源 反射照明系統(tǒng)（LED燈），亮度可調

【選配件】

1、目鏡和物鏡：多種放大倍率；

2、金相圖像分析測量軟件（Image-3000）；

3、金相自動評級軟件（MIAS3000）；