優(yōu)勢：

1、采用基于相位的電渦流技術(shù)，集測量精密、價(jià)格合理、質(zhì)量優(yōu)勢于一體的手持式測厚儀。

2、為金屬表面處理者設(shè)計(jì)。配置的單探頭可測量，鐵質(zhì)底上金屬鍍層-即使在小的、幾何形狀的或表面粗糙的樣品上都可以進(jìn)行測量。

3、易于用戶控制，并且可以同X線熒光測儀的準(zhǔn)確性和精密性。

4、為了讓客戶能以低成本購買243E免去了對(duì)多探頭、操作培訓(xùn)和持續(xù)保養(yǎng)的需要。

 

測工件細(xì)節(jié)圖展示：

1.測直徑4mm圓柱體的測面

 

2.測直徑3mm的小釘子的頂部

 

 

3.測小釘子側(cè)面

 

 

 

測量技術(shù)：

一般的測試方法，例如一般測厚儀制造商所采用的普通磁感應(yīng)和渦流方式，由于探頭的" 升離效應(yīng)" 導(dǎo)致的底材效應(yīng)，和由于測試件形狀和結(jié)構(gòu)導(dǎo)致的干擾，都無法達(dá)到對(duì)金屬性鍍層厚度的測量。

牛津儀器將基于相位的電渦流技術(shù)應(yīng)用到243E,使其達(dá)到了±3%以內(nèi)（對(duì)比標(biāo)準(zhǔn)片）的準(zhǔn)確度和0.3% 以內(nèi)的精確度。

牛津儀器對(duì)電渦流技術(shù)的特有應(yīng)用，將底材效應(yīng)最小化，使得測量準(zhǔn)確且不受零件的幾何形狀影響。

另外，儀器一般不需要在鐵質(zhì)底材上進(jìn)行校準(zhǔn)。

 

基本配置包括：

ECP-M探頭及拆除指南

Rs232串行電纜

校準(zhǔn)用鐵上鍍鋅標(biāo)準(zhǔn)片組

可選配SMTP-1(磁感應(yīng)探頭)

 

測量范圍：

鐵上鍍層    鍍層厚度范圍     探頭

Zn            0–38μm       ECP-M

Cd      ′      0–38μm       ECP-M

Cr            0–38μm      ECP-M

Cu            0–10μm      ECP-M

 

技術(shù)參數(shù)及功能：

準(zhǔn)確度：相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)片±3%

精確度：0.3%

分辨率：0.1μm

電渦流：遵循DIN50984, BS5411 Part 3, ISO 2360, ISO 21968草案, ASTM B499, 及ASTM E376

存儲(chǔ)量：26,500 條存儲(chǔ)讀數(shù)

尺寸：14.9 x 7.94 x 3.02 cm

重量：0.26 kg 包括電池

單位：英制和公制的自動(dòng)轉(zhuǎn)換

接口：RS-232串行接口，波特率可調(diào)，用于下載至打印機(jī)或計(jì)算機(jī)

顯示屏：三位數(shù)LCD液晶顯示

電池：9伏堿性電池，65小時(shí)連續(xù)使用

ECP-M探頭：ECP-M探頭為較難測量的金屬覆層設(shè)計(jì)，此單探頭可以測量，鐵質(zhì)底材上金屬覆層，例如鋅、鎳、銅、鉻和鎘。更小的探針為小的、幾何形狀的或表面粗糙的零件提供了便捷的測量。

 

ECP-M探頭規(guī)格(mm)

最小凸面半徑	1.143
最小凹面半徑	1.524
測量高度	101.6
最小測量直徑	2.286
底材最小	304.8

 

243E是一款靈便、易用的儀器，為金屬表面處理者設(shè)計(jì)。配置的單探頭可測量鐵質(zhì)底上金屬鍍層-即使在小的、幾何形狀的或表面粗糙的樣品上都可以進(jìn)行測量。這款測厚儀是緊固件行業(yè)應(yīng)用的工具。采用基于相位的電渦流技術(shù)。

243E手持式測厚儀易于用戶控制，并且可以同X射線熒光測厚儀的準(zhǔn)確性和精密性。為了讓客戶能以低成本購買。OXFORD-243E免去了對(duì)多探頭、操作培訓(xùn)和持續(xù)保養(yǎng)的需要。

 

牛津涂層測厚儀

牛津儀器公司提供高一般的測試方法，例如一般測厚儀制造商所采用的普通磁感應(yīng)和渦流方式，由于探頭的" 升離效應(yīng)" 導(dǎo)致的底材效

應(yīng)，和由于測試件形狀和結(jié)構(gòu)導(dǎo)致的干擾，都無法達(dá)到對(duì)金屬性鍍層厚度的測量。

牛津儀器將基于相位的電渦流技術(shù)應(yīng)用到243E,使其達(dá)到了±3%以內(nèi)（對(duì)比標(biāo)準(zhǔn)片）的準(zhǔn)確度和0.3% 以內(nèi)的精確度。牛津儀器對(duì)電渦流技術(shù)的特有應(yīng)用，將底材效應(yīng)小化，使得測量值且不受零件的幾何形狀影響。另外，儀器一般不需要在鐵質(zhì)底材上進(jìn)行校準(zhǔn)。ECP-M探頭為較難測量的金屬覆層設(shè)計(jì)，此單探頭可以測量鐵質(zhì)底材上金屬覆層，例如鋅、鎳、銅、鉻和鎘。更小的探針為小的、幾何形狀的或表面粗糙的零件提供了便捷的測量。