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涂層測厚儀leeb252C

涂層測厚儀leeb252C

 

本儀器是磁性、渦流一體的便攜式涂層測厚儀,它能快速、無損傷地進(jìn)行涂、鍍層厚度的測量。既可用于實驗室,也可用于工程現(xiàn)場。本儀器能廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領(lǐng)域,是材料保護(hù)重要的儀器。

詳細(xì)介紹

【主要功能】

● 采用了磁性和渦流兩種測厚方法,即可測量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度又可測量非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度。

● 具有兩種測量方式:連續(xù)測量方式和單次測量方式

● 具有三種測量模式:高精度測量模式可對多次測量取平均,并對可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行自動過濾,可確保測量值更加準(zhǔn)確、穩(wěn)定;快速測量模式可實現(xiàn)實時掃描功能。

● 具有溫度補償功能:實時溫度補償技術(shù)可自動對環(huán)境溫度及測頭溫度改變引起的測量誤差進(jìn)行補償,使測量更準(zhǔn)確。

● 設(shè)有五個統(tǒng)計量:平均值( MEAN)、 最大值( MAX)、最小值( MIN )測試次數(shù)(NO.)、標(biāo)準(zhǔn)偏差(S.DEV )。

● 可采用零點校準(zhǔn)、單點校準(zhǔn)或兩點校準(zhǔn)法對儀器進(jìn)行校準(zhǔn)并可用基本校準(zhǔn)和溫度系數(shù)校準(zhǔn)法對測頭的系統(tǒng)誤差進(jìn)行修正。

● 具有存儲功能:最多可存儲500個測量值。

● 具有刪除功能:對測量中出現(xiàn)的單個可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行刪除,也可刪除存儲區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù),以便進(jìn)行新的測量。

● 可設(shè)置限界:對限界外的測量值自動報警。

● 具有電源電量指示功能。

● 操作過程有蜂鳴聲提示。

● 說有三種關(guān)機方式:手動關(guān)機方式,超時自動關(guān)機方式以及低電量自動關(guān)機方式,并可設(shè)置超時自動關(guān)機等待時間

【技術(shù)參數(shù)

項目

Leeb252C

測頭類型

F1

N1

工作原理

磁感應(yīng)

電渦流

測量范圍

0~1500μm

0~1500μm

低限分辨率

100um以下0.1um,100um以上1um  

示值誤差

零點校準(zhǔn)

±(3%H+1)

兩點校準(zhǔn)

±[(1~3%)H+1]

測試條件

最小曲率半徑mm

1.5

3

最小面積直徑mm

Φ7

Φ5

基本臨界厚度mm

0.5

0.3

工作環(huán)境

溫度

0~40℃

濕度

20%~90%

電源

二節(jié)7號堿性電池(1.5V)

外形尺寸

112×70×23mm(主機)

重量

約80g

標(biāo)準(zhǔn)配置

主機、標(biāo)準(zhǔn)試片、基體、AAA型堿性電池

【校準(zhǔn)方法】

本儀器提供兩種測量中使用的校準(zhǔn)方法:零點校準(zhǔn)和兩點校準(zhǔn);以及兩種針對探頭的校準(zhǔn)方法:基本校準(zhǔn)

零點校準(zhǔn)

在不同基體上進(jìn)行測量時重新進(jìn)行零點校準(zhǔn),當(dāng)校準(zhǔn)使用的基體與待測試件基體性質(zhì)偏差較大時,測量值將會產(chǎn)生偏差。可使用以下兩種方法之一進(jìn)行零點校準(zhǔn):

方法1:a)在基體上進(jìn)行一次測量 ,屏幕顯示< xxμm>。

b)在提起測頭之后長按“校正” 鍵,屏顯<0.0um>,校準(zhǔn)完成。

方法2:可短按“校正” 進(jìn)入校準(zhǔn)界面,對基體進(jìn)行測量,按“確認(rèn)”鍵,然后跳過下一個界面“測量(1000um)時,按“跳過”鍵校準(zhǔn)完成。

兩點校準(zhǔn)

這一校準(zhǔn)法適用于高精度測量及小工件、淬火鋼、合金鋼。

a)可短按“校正”進(jìn)入校準(zhǔn)界面,對基體進(jìn)行零點校準(zhǔn),屏幕顯示<xxxum> ,按“確認(rèn)”確認(rèn)。

b)按提示測量(1000um)的標(biāo)準(zhǔn)片,屏幕顯示< xxxum>。按“確認(rèn)”鍵確認(rèn)。(或沒有1000um的標(biāo)準(zhǔn)片時,找厚度接近的膜片代替,需要在儀器上設(shè)置膜片的厚度,操作方法如下,在提示測量( 1000um )的標(biāo)準(zhǔn)片時,按“設(shè)置”鍵,進(jìn)入設(shè)置校正值界面,按“∧”“∨”鍵來調(diào)整膜片的厚度值,然后按"確認(rèn)“鍵確認(rèn),返回到校正界面,這里測量( xx xum )就做相應(yīng)的改變了。

圖片欣賞

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